| 工作原理 | |||||||||||||||||||||||
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1.测量传感器:激光位移传感器;测量原理:三角几何法。 2.系统测量原理:反射式测量，双探头对射，上下同轴相对安装，通过测量材料上下表面到激光头的位移距离，来测量材料的几何厚度，厚度T=C-(A+B)，如下图。 |
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| 系统构成 | |||||||||||||||||||||||
| 1.用户操作终端 用户操作终端包括一个专用的工业控制计算机和高分辨率的彩色显示器。 2.设备测量单元 测厚仪的测量单元主要由激光测头、直线导轨滑台组件、横梁等组成。测量传感器采用进口激光测头，通过激光测头采集被测物的厚度尺寸。激光测头安装在直线导轨滑台组件的滑块上，当伺服电机驱动滑块往复移动时激光测头沿被测物的宽度方向进行扫描测量。 3.主控制柜 主控制柜是测量系统的心脏，测厚仪的计算、显示和扫描动作的控制由专用主控制柜完成，测量结果在液晶显示屏上显示。 |
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| 系统优势 | 典型应用与对应参数 | ||||||||||||||||||||||
| 1.测量传感器:采用进口高精度CCD激光位移传感器。 2.扫描架:采用天然大理石C型扫描架和大理石运动平台。 3.专有激光同轴对齐度、过辊平行度、激光垂直度等参数调节工装和检验软件。 4.高效的数据采集与数据传输通信方式，科学的软件算法，保证最佳可靠的测量性能。 5.专有软件算法，实现涂布边缘或头尾削薄区尺寸测量，可提供0.1mm的采样距离。 6.超高重复精度:±0.3um，与辊压机联机实现自动闭环控制。 |
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